X熒光光譜儀UX-310的多種檢測模式

信息來源于： 發(fā)布于：2022-07-24

      X熒光光譜儀UX-310一般認為有三種分析模式，即點分析、線分析和面分析。

       點分析：將電子探針固定在試樣感興趣的點上，進行定性或定量分析。該方法用于顯微結構的成份分析，例如對材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學計量材料的組成等分析。

       線分析：電子束沿一條分析線進行掃描（或試樣掃描）時，能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像（二次電子像或背散射電子像）對照分析，能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內的分布。沿需要檢測的線逐點測量成分，也可以劃出該線的成分變化曲線。

       面分析：將電子束在試樣表面掃描時，元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來（定性分析），亮度越亮，說明元素含量越高。研究材料中雜質、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對照分析。

       針對不同檢測場景和檢測環(huán)境，對樣品進行不同的檢測模式。
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